Phenom ParticleX TC

Particle X jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL pozwalającym na badanie czystości technicznej pod kątem norm ISO 16232 i VDA19.

Particle X dzięki połączeniu możliwości mikroskopu Phenom XL oraz dedykowanej stacji roboczej jest w stanie w szybki i niesamowicie precyzyjny sposób zbadać cząstki wyekstrahowane z elementów produkowanych w przemyśle automotive. Rozmiar badanych cząstek wacha się od 500nm do 3mm co daje ogromne pole do działania pod kątem badania zanieczyszczeń i eliminacji ich w procesie produkcji, transportu lub pakowania zapewniając jak najlepsze parametry czystości technicznej. Wyekstrahowane cząstki badane są na ustandaryzowanych filtrach 47mm szeroko stosowanych w analizie czystości technicznej.

Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie skategoryzować znalezione cząstki od odpowiednich grup materiałów np. stopy metali, ceramika, tlenki metali jak i również konkretne stopy mogące pochodzić od różnych źródeł zanieczyszczeń – maszyny frezującej lub wycinającej dany element, obrabiarki lub stop metalu pochodzącego z czyszczonego detalu. Jest to nieoceniona pomoc w analizie źródeł zanieczyszczeń i ich szybkiej eliminacji z każdego procesu produkcyjnego.

Mikroskop skaningowy Phenom ParticleX idealnie nadaje się również do standardowego obrazowania SEM gdzie możemy obserwować i badać strukturę próbek. Po bardzo prostym demontażu holdera na sączki otrzymujemy obszar wielkości 100 mm x 100 mm x 65mm wys. który umożliwia na badanie dużych próbek. Po wykonaniu zdjęcia możemy zapisać go w formatach JPEG, TIFF, BMP.

Interfejs Particle X po wykonaniu badań czystości posiada możliwość generowania raportów zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA19. W zależności od wymagań klienta raporty mogą być edytowane i dopasowane konkretnie pod wymagania klienta.