Mikroskop elektronowy ParticleX AM – ThermoFisher Scientific

Skaningowy mikroskop elektronowy Phenom ParticleX AM Desktop SEM to wszechstronne rozwiązanie do mikroskopowej analizy wysokiej jakości, które umożliwia szybkie sprawdzenie i klasyfikację materiałów stosowanych w aplikacjach związanych z Additive Manufacturing (AM). Dzięki ParticleX AM Desktop SEM, Twoja produkcja materiałów do druku 3D wspierana jest szybkimi, dokładnymi i wiarygodnymi danymi.

Mikroskop elektronowy Thermo Scientific Phenom ParticleX AM Desktop SEM wyznacza nowe granice mikroskopii elektronowej w wersji kompaktowej – nastołowej, zachowując jednocześnie sprawdzoną łatwość obsługi i szybki czas uzyskiwania obrazów, charakterystyczne dla serii Phenom. System jest prosty w obsłudze i szybki do nauczenia, co pozwala szerokiemu kręgowi użytkowników na przeprowadzanie analizy cząsteczek i materiałów we własnym zakresie. Dzięki temu można skutecznie zredukować potrzebę outsourcingu i uzyskać potrzebne wyniki w krótkim czasie. Zredukowany czas oczekiwania pozwala poprawić wydajność produkcji i szybciej wprowadzać produkty na rynek.

Phenom ParticleX AM Desktop SEM oferuje nie tylko wysokiej jakości analizę SEM, ale także automatyczną charakterystykację morfologiczną i chemiczną cząsteczek proszku metalowego.

Analiza morfologiczna proszku metalowego:

Podczas gdy SEM może dostarczyć dane o rozkładzie wielkości porównywalne z dyfrakcją laserową, siłą analizy EM jest dodatkowa informacja poza średnią średnicą. Na przykład różnorodność danych morfologicznych uzyskiwanych za pomocą Phenom ParticleX AM Desktop SEM pozwala na klasyfikację i sortowanie poszczególnych cząsteczek. Jak pokazano na rysunku 1, cząsteczki proszku wsadowego zostały sklasyfikowane jako cząsteczki sferyczne, cząsteczki z satelitami lub cząsteczki zdeformowane/aglomerowane. Te reguły klasyfikacji zostały następnie użyte do sortowania trzech typów morfologii podczas automatycznych pomiarów.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.