• Regulamin
  • Polityka prywatności
  • FAQ
Logo
×
  • Generuj
    ofertę
    Aby wygenerować ofertę, dodaj przynajmniej jeden produkt do koszyka.
  • Kopiuj
    koszyk
    Aby udostępnić koszyk, dodaj co najmniej jeden produkt do koszyka.
Koszyk:
0,00 zł
Kategorie
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Mikroskopy elektronowe SEMUrządzenia do metalografii » Mikroskopy elektronowe SEM » Mikroskop elektronowy ParticleX GSR – ThermoFisher Scientific
Mikroskop elektronowy ParticleX GSR

Mikroskop elektronowy ParticleX GSR – ThermoFisher Scientific

Particle X to dedykowany interfejs współpracujący z mikroskopem Phenom XL, zaprojektowany specjalnie do analizy czystości technicznej zgodnie z normami ISO 16232 i VDA19. Dzięki integracji z mikroskopem Phenom XL G2 oraz specjalistyczną stacją roboczą, interfejs Particle X umożliwia szybkie i niezwykle precyzyjne badanie cząstek wyekstrahowanych z elementów przemysłowych, zwłaszcza w przemyśle motoryzacyjnym oraz lotniczym.

System Particle X umożliwia analizę cząstek o rozmiarach od 500 nm do 3 mm, co pozwala na dogłębną ocenę zanieczyszczeń oraz ich eliminację w procesach produkcyjnych, transportowych czy opakowaniowych, zapewniając optymalne parametry czystości technicznej. Badane cząstki są analizowane na standardowych filtrach 47 mm, powszechnie stosowanych w analizie czystości.

Dzięki wbudowanemu analizatorowi EDS, Particle X dostarcza informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń. Spersonalizowane algorytmy interfejsu pozwalają na precyzyjną klasyfikację cząstek według grup materiałów, takich jak stopy metali, ceramika czy tlenki metali. System potrafi również identyfikować konkretne źródła zanieczyszczeń, takie jak maszyny frezarskie, obrabiarki czy stopy metali pochodzące z czyszczonych detali. Taki poziom analizy ułatwia szybkie identyfikowanie źródeł zanieczyszczeń i ich eliminację z procesów produkcyjnych.

Mikroskop skaningowy Phenom XL Particle X sprawdza się również w standardowym obrazowaniu SEM, umożliwiając badanie struktury próbek. Po prostym demontażu holdera na sączki, uzyskujemy obszar roboczy o wymiarach 100 mm x 100 mm x 65 mm, który pozwala na obrazowanie oraz analizę większych próbek. Uzyskane obrazy można zapisać w formatach JPEG, TIFF i BMP.

Po przeprowadzeniu analizy czystości, interfejs Particle X umożliwia generowanie raportów zgodnych z normami ISO 16232 i VDA19. Raporty mogą być dostosowywane i edytowane zgodnie z indywidualnymi wymaganiami użytkownika.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI

O LABORATORIUM

Laboratorium Materiałoznawcze PIK to miejsce, gdzie precyzja i innowacja spotykają się, aby dostarczać najwyższej jakości analizy i badania materiałów. Dzięki zaawansowanemu sprzętowi i doświadczonemu zespołowi specjalistów, oferujemy kompleksowe usługi badawcze, które pomagają w optymalizacji procesów produkcyjnych i podnoszeniu jakości wyrobów. Stawiamy na rzetelność, terminowość oraz indywidualne podejście do każdego zlecenia, zapewniając naszym klientom pełne wsparcie i profesjonalizm na każdym etapie współpracy.

Zapraszamy do współpracy i korzystania z naszych zaawansowanych badań materiałowych!

Dane kontaktowe

Laboratorium usługowe
ul. Lwowska 34
41-500 Chorzów
Tel: +48 504 791 595
laboratorium@pik-metrology.pl

PIK METROLOGY Sp. z o.o.
NIP: 123-143-66-20
ul. Źródlana 9
05-090 Laszczki
kontakt@pik-metrology.pl

PIK Metrology – Polityka prywatności

Certyfikacja

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001
(nr. 4804600) , potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością
z międzynarodowymi standardami ISO.
Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright 2026 by PIK Instruments. All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
×
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Kontakt
Zadzwoń +48 22 726 74 96 pon.-pt. 8:00-16:00
sob.-ndz. nieczynne
E-mail Napisz do nas FAQ FAQ

Podaj adres e-mail

Zarejestruj się w Micro-Shop, aby ułatwić generowanie ofert i uniknąć podawania adresu e-mail przy każdej wygenerowanej ofercie.

Obowiązkowe

Nieobowiązkowe

Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

Save Your Cart

Title is required

Share Your Cart

Cart has been replaced

Share Your Cart

Login first to save cart
Powrót
Zapaytaj o produkt

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem- wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Obowiązkowe

    Nieobowiązkowe

    Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

    Kliknij w przycisk, aby skopiować zawartość koszyka

    Skopiowano