• Regulamin
  • Polityka prywatności
  • FAQ
Logo
×
  • Generuj
    ofertę
    Aby wygenerować ofertę, dodaj przynajmniej jeden produkt do koszyka.
  • Kopiuj
    koszyk
    Aby udostępnić koszyk, dodaj co najmniej jeden produkt do koszyka.
Koszyk:
0,00 zł
Kategorie
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Mikroskopy elektronowe SEMUrządzenia do metalografii » Mikroskopy elektronowe SEM » Mikroskop elektronowy ParticleX Steel – ThermoFisher Scientific
Mikroskop elektronowy ParticleX Steel

Mikroskop elektronowy ParticleX Steel – ThermoFisher Scientific

Dzięki znajomości parametrów procesu wytwarzania półproduktu stalowego, można kontrolować i ograniczać niepożądane wtrącenia w materiale. Prawidłowe obrazowe i chemiczne monitorowanie jakości materiału wymaga solidnego, odpornego i wydajnego rozwiązania dedykowanego dla przemysłu. 

Steel jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL, pozwalającym na analizę wtrąceń metalicznych i niemetalicznych, kontrastujących w skali szarości na tle materiału macierzystego. Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie zliczyć, zmierzyć, sklasyfikować oraz automatycznie zanalizować i wygenerować raport zawierający wszystkie znalezione wtrącenia w materiale. Pliki morfologiczne oraz klasyfikacyjne pozwalają na korzystanie z możliwości edycji lub zadania parametrów poszukiwanych obiektów. Wyniki skanowania można otworzyć ponownie w dowolnym czasie oraz przeliczyć je względem danych zebranych podczas analizy. 

Moduł do generowania raportów posiada możliwość edycji tabel, wykresów, histogramów, wykresów tróskładnikowych, rozkładu i gęstości wtrąceń w danym okienku pomiarowym. Wszystko aby szybko i z wysoką powtarzalnością zwizualizować jakość materiału, już w trakcie produkcji. Dodatkowo po wykonanym skanie możemy każdy znaleziony obiekt, wybrany z tabeli w module inspekcji. 

Steel poszukuje wtrącenia w stali uspokojonych Si, Al, traktowanych Ca. Wtrącenia tlenkowe, siarkowe, metaliczne, oraz organiczne w zakresie pierwiastkowym od C do U. 

Imaging:

– Tryb obrazowania:

  • Optyczny: Powiększenie: 3–16x
  • Elektronowy: Powiększenie:160–200,000x

– Oświetlenie:

  • Optyczne: Pole jasne/ pole ciemne
  • Elektronowe: Źródło elektronowe CeB6 o długim czasie życia (CeB₆)
    Wiele prądów wiązki

– Napięcia przyspieszające: Domyślnie: 5 kV, 10 kV and 15 kV

  • Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 4,8 kV do 20,5 kV, tryb obrazowania i analizy

– Poziomy próżni: Niska 60 Pa -> Średnia 10 Pa -> Wysoka 0,1 Pa

– Rozdzielczość: <10nm

Detektory:

– W standardzie: BSE – Backscattered electron detector

– Opcjonalnie: SE – Detektor elektronów wtórnych, Everhart Thornley

– Detekcja zdjęć cyfrowych

  • Optyka: Światło optyczne – wysokorozdzielcza kamera kolorowa nawigacyjna, jedno zdjęcie
  • Źródło elektronów: Wysokoczuły detektor elektronów wstecznie rozproszonych (tryb kontrastowy chemiczny i tryb topografii)
  • Formaty zapisu zdjęcia: JPEG, TIFF, PNG
  • Rozdzielczość zdjęć: 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
  • Przechowywanie danych: USB 2.0 dysk przenośny/sieciowo na komputerze
  • Stolik na próbki: zmotoryzowany przesuw w osiach X i Y

EDS:

  • Typ detektora: Silicon Drift Detector (SDD)
    Chłodzony termoelektrycznie (LN₂ free)
  • Aktywna powierzchnia detektora: 25 mm²
  • Typ okienka: Ultracienki azotek krzemu (Si₃N₄) możliwiająca wykrywanie pierwiastków od B do Am
  • Rozdzielczość: Mn Kα ≤132 eV
  • Możliwości okienka: Wielokanałowy analizator z 2048 kanałami przy energii 10 eV na każdy kanał
  • Maksymalna szybkość zliczania na wejściu: 300 000 zliczeń/s
  • Integracja hardware: Pełna

– Mapowanie pierwiastkowe:

  • Selekcja: 10 ręcznie ustawionych map wraz z obrazem z BSE lub obrazem z miksu BSE+SE

– Obraz z detektora BSE, obraz z miksu BSE+SE:

  • Wybrany obszar: Prostokątna, dowolny rozmiar
  • Rozdzielczość mapowania pierwiastkowego: 16 x 16 px – 1024 x 1024 px
  • Czas ekspozycji pixela: 1 – 250 ms

– Skan liniowy:

  • Rozdzielczość skanu liniowego: 16 – 512 px
  • Czas ekspozycji punktu: 50 – 250 ms
  • Maksymalna liczba linii: 12
  • Oprogramowanie:

    – Zintegrowane w interfejsie użytkownika Phenom
    – Zintegrowane sterowanie kolumną i stołem
    – Auto-detekcja pierwiastków po pierwszej sekundzie analizy
    – Iteracyjne usuwanie nakładających się pików
    – Parametr niepewności pomiarowej
    – Funkcje raportu: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA

  • Raport: .doc format

System:

– Dimensions & weight:

  • Jednostka główna: 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg
  • Pompa próżniowa: 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4,5 kg
  • Zasilacz: 260(w) x 260(d) x 85(h) mm, 4,5kg
  • Monitor (24”): 531(w) x 180(d) x 511(h) mm, 5,6kg
  • Stacja robocza: Komputer z dyskiem SSD
    93(w) x 293(d) x 290(h) mm, 5,6 kg
  • Rozmiar stolika: Max. 100 mm x 100 mm (do 36x stoliczków aluminiowych ⌀12 mm)
    Max. 40 mm wysokości (opcjonalnie do 65 mm)
  • Obszar roboczy: 100 mm x 100 mm
  • Czas obrazowania od włożenia stoliczka do komory:
    Tryb kamery <5 s
    Tryb SEM <60 s

Wymagania:

– Parametry środowiska/ stacja robocza

  • Temperatura: 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)
  • Wilgotność: 20% – 80%
  • Zasilanie: Jedna faza, prąd zmienny 100–240 W, 50/60 Hz, 163 W średnia, 348 W max
  • Rekomendowana wielkość stołu: 150 x 75 cm, nośność 150 kg
  • Specyfikacja stacji roboczej:

    – HP-PC Tower PC
    – CPU Intel Xeon E5-1620
    – RAM 16 GB
    – SSD 2 x 1TB
    – Klawiatura i myszka USB
    – Microsoft Windows® 10 Enterprise Edition (64-bit)

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI

O LABORATORIUM

Laboratorium Materiałoznawcze PIK to miejsce, gdzie precyzja i innowacja spotykają się, aby dostarczać najwyższej jakości analizy i badania materiałów. Dzięki zaawansowanemu sprzętowi i doświadczonemu zespołowi specjalistów, oferujemy kompleksowe usługi badawcze, które pomagają w optymalizacji procesów produkcyjnych i podnoszeniu jakości wyrobów. Stawiamy na rzetelność, terminowość oraz indywidualne podejście do każdego zlecenia, zapewniając naszym klientom pełne wsparcie i profesjonalizm na każdym etapie współpracy.

Zapraszamy do współpracy i korzystania z naszych zaawansowanych badań materiałowych!

Dane kontaktowe

Laboratorium usługowe
ul. Lwowska 34
41-500 Chorzów
Tel: +48 504 791 595
laboratorium@pik-metrology.pl

PIK METROLOGY Sp. z o.o.
NIP: 123-143-66-20
ul. Źródlana 9
05-090 Laszczki
kontakt@pik-metrology.pl

PIK Metrology – Polityka prywatności

Certyfikacja

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001
(nr. 4804600) , potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością
z międzynarodowymi standardami ISO.
Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright 2026 by PIK Instruments. All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
×
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Kontakt
Zadzwoń +48 22 726 74 96 pon.-pt. 8:00-16:00
sob.-ndz. nieczynne
E-mail Napisz do nas FAQ FAQ

Podaj adres e-mail

Zarejestruj się w Micro-Shop, aby ułatwić generowanie ofert i uniknąć podawania adresu e-mail przy każdej wygenerowanej ofercie.

Obowiązkowe

Nieobowiązkowe

Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

Save Your Cart

Title is required

Share Your Cart

Cart has been replaced

Share Your Cart

Login first to save cart
Powrót
Zapaytaj o produkt

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem- wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Obowiązkowe

    Nieobowiązkowe

    Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

    Kliknij w przycisk, aby skopiować zawartość koszyka

    Skopiowano