Kategorie
Kategorie
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Mikroskopy elektronowe SEMUrządzenia do metalografii » Mikroskopy elektronowe SEM » Mikroskop elektronowy ParticleX Steel – ThermoFisher Scientific
Mikroskop elektronowy ParticleX Steel – ThermoFisher Scientific
Dzięki znajomości parametrów procesu wytwarzania półproduktu stalowego, można kontrolować i ograniczać niepożądane wtrącenia w materiale. Prawidłowe obrazowe i chemiczne monitorowanie jakości materiału wymaga solidnego, odpornego i wydajnego rozwiązania dedykowanego dla przemysłu.
Steel jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL, pozwalającym na analizę wtrąceń metalicznych i niemetalicznych, kontrastujących w skali szarości na tle materiału macierzystego. Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie zliczyć, zmierzyć, sklasyfikować oraz automatycznie zanalizować i wygenerować raport zawierający wszystkie znalezione wtrącenia w materiale. Pliki morfologiczne oraz klasyfikacyjne pozwalają na korzystanie z możliwości edycji lub zadania parametrów poszukiwanych obiektów. Wyniki skanowania można otworzyć ponownie w dowolnym czasie oraz przeliczyć je względem danych zebranych podczas analizy.
Moduł do generowania raportów posiada możliwość edycji tabel, wykresów, histogramów, wykresów tróskładnikowych, rozkładu i gęstości wtrąceń w danym okienku pomiarowym. Wszystko aby szybko i z wysoką powtarzalnością zwizualizować jakość materiału, już w trakcie produkcji. Dodatkowo po wykonanym skanie możemy każdy znaleziony obiekt, wybrany z tabeli w module inspekcji.
Steel poszukuje wtrącenia w stali uspokojonych Si, Al, traktowanych Ca. Wtrącenia tlenkowe, siarkowe, metaliczne, oraz organiczne w zakresie pierwiastkowym od C do U.
Imaging:
– Tryb obrazowania:
- Optyczny: Powiększenie: 3–16x
- Elektronowy: Powiększenie:160–200,000x
– Oświetlenie:
- Optyczne: Pole jasne/ pole ciemne
- Elektronowe: Źródło elektronowe CeB6 o długim czasie życia (CeB₆)
Wiele prądów wiązki
– Napięcia przyspieszające: Domyślnie: 5 kV, 10 kV and 15 kV
- Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 4,8 kV do 20,5 kV, tryb obrazowania i analizy
– Poziomy próżni: Niska 60 Pa -> Średnia 10 Pa -> Wysoka 0,1 Pa
– Rozdzielczość: <10nm
Detektory:
– W standardzie: BSE – Backscattered electron detector
– Opcjonalnie: SE – Detektor elektronów wtórnych, Everhart Thornley
– Detekcja zdjęć cyfrowych
- Optyka: Światło optyczne – wysokorozdzielcza kamera kolorowa nawigacyjna, jedno zdjęcie
- Źródło elektronów: Wysokoczuły detektor elektronów wstecznie rozproszonych (tryb kontrastowy chemiczny i tryb topografii)
- Formaty zapisu zdjęcia: JPEG, TIFF, PNG
- Rozdzielczość zdjęć: 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
- Przechowywanie danych: USB 2.0 dysk przenośny/sieciowo na komputerze
- Stolik na próbki: zmotoryzowany przesuw w osiach X i Y
EDS:
- Typ detektora: Silicon Drift Detector (SDD)
Chłodzony termoelektrycznie (LN₂ free) - Aktywna powierzchnia detektora: 25 mm²
- Typ okienka: Ultracienki azotek krzemu (Si₃N₄) możliwiająca wykrywanie pierwiastków od B do Am
- Rozdzielczość: Mn Kα ≤132 eV
- Możliwości okienka: Wielokanałowy analizator z 2048 kanałami przy energii 10 eV na każdy kanał
- Maksymalna szybkość zliczania na wejściu: 300 000 zliczeń/s
- Integracja hardware: Pełna
– Mapowanie pierwiastkowe:
- Selekcja: 10 ręcznie ustawionych map wraz z obrazem z BSE lub obrazem z miksu BSE+SE
– Obraz z detektora BSE, obraz z miksu BSE+SE:
- Wybrany obszar: Prostokątna, dowolny rozmiar
- Rozdzielczość mapowania pierwiastkowego: 16 x 16 px – 1024 x 1024 px
- Czas ekspozycji pixela: 1 – 250 ms
– Skan liniowy:
- Rozdzielczość skanu liniowego: 16 – 512 px
- Czas ekspozycji punktu: 50 – 250 ms
- Maksymalna liczba linii: 12
- Oprogramowanie:
– Zintegrowane w interfejsie użytkownika Phenom
– Zintegrowane sterowanie kolumną i stołem
– Auto-detekcja pierwiastków po pierwszej sekundzie analizy
– Iteracyjne usuwanie nakładających się pików
– Parametr niepewności pomiarowej
– Funkcje raportu: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA - Raport: .doc format
System:
– Dimensions & weight:
- Jednostka główna: 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg
- Pompa próżniowa: 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4,5 kg
- Zasilacz: 260(w) x 260(d) x 85(h) mm, 4,5kg
- Monitor (24”): 531(w) x 180(d) x 511(h) mm, 5,6kg
- Stacja robocza: Komputer z dyskiem SSD
93(w) x 293(d) x 290(h) mm, 5,6 kg - Rozmiar stolika: Max. 100 mm x 100 mm (do 36x stoliczków aluminiowych ⌀12 mm)
Max. 40 mm wysokości (opcjonalnie do 65 mm) - Obszar roboczy: 100 mm x 100 mm
- Czas obrazowania od włożenia stoliczka do komory:
Tryb kamery <5 s
Tryb SEM <60 s
Wymagania:
– Parametry środowiska/ stacja robocza
- Temperatura: 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)
- Wilgotność: 20% – 80%
- Zasilanie: Jedna faza, prąd zmienny 100–240 W, 50/60 Hz, 163 W średnia, 348 W max
- Rekomendowana wielkość stołu: 150 x 75 cm, nośność 150 kg
- Specyfikacja stacji roboczej:
– HP-PC Tower PC
– CPU Intel Xeon E5-1620
– RAM 16 GB
– SSD 2 x 1TB
– Klawiatura i myszka USB
– Microsoft Windows® 10 Enterprise Edition (64-bit)
Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.
