Kategorie
Kategorie
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Mikroskopy elektronowe SEMUrządzenia do metalografii » Mikroskopy elektronowe SEM » Mikroskop elektronowy ParticleX TC – ThermoFisher Scientific
Mikroskop elektronowy ParticleX TC – ThermoFisher Scientific
Particle X jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL pozwalającym na badanie czystości technicznej pod kątem norm ISO 16232 i VDA19
Particle X dzięki połączeniu możliwości mikroskopu Phenom XL oraz dedykowanej stacji roboczej jest w stanie w szybki i precyzyjny sposób zbadać cząstki wyekstrahowane z elementów produkowanych w przemyśle automotive. Rozmiar badanych cząstek wacha się od 500nm do 3mm co daje ogromne pole do działania pod kątem badania zanieczyszczeń i eliminacji ich w procesie produkcji, transportu lub pakowania zapewniając jak najlepsze parametry czystości technicznej. Wyekstrahowane cząstki badane są na ustandaryzowanych filtrach 47mm, 25mm lub innych stosowanych w analizie czystości technicznej.
Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie skategoryzować znalezione cząstki od odpowiednich grup materiałów np. stopy metali, ceramika, tlenki metali jak i również konkretne stopy mogące pochodzić od różnych źródeł zanieczyszczeń – maszyny frezującej lub wycinającej dany element, obrabiarki lub stop metalu pochodzącego z czyszczonego detalu. Jest to nieoceniona pomoc w analizie źródeł zanieczyszczeń i ich szybkiej eliminacji z każdego procesu produkcyjnego.
Interfejs Particle X po wykonaniu badań czystości posiada możliwość generowania raportów zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA19. W zależności od wymagań klienta raporty mogą być edytowane i dopasowane konkretnie pod wymagania klienta.
Imaging:
– Tryb obrazowania:
- Optyczny: Powiększenie: 3–16x
- Elektronowy: Powiększenie:160–200,000x
– Oświetlenie:
- Optyczne: Pole jasne/ pole ciemne
- Elektronowe: Źródło elektronowe CeB6 o długim czasie życia (CeB₆)
Wiele prądów wiązki
– Napięcia przyspieszające:
- Domyślnie: 5 kV, 10 kV and 15 kV
- Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 4,8 kV do 20,5 kV, tryb obrazowania i analizy
– Poziomy próżni: Niska 60 Pa -> Średnia 10 Pa -> Wysoka 0,1 Pa
– Rozdzielczość: <10nm
Detektory:
– W standardzie: BSE – Backscattered electron detector
– Opcjonalnie: SE – Detektor elektronów wtórnych, Everhart Thornley
– Detekcja zdjęć cyfrowych
- Optyka: Światło optyczne – wysokorozdzielcza kamera kolorowa nawigacyjna, jedno zdjęcie
- Źródło elektronów: Wysokoczuły detektor elektronów wstecznie rozproszonych (tryb kontrastowy chemiczny i tryb topografii)
- Formaty zapisu zdjęcia: JPEG, TIFF, PNG
- Rozdzielczość zdjęć: 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
- Przechowywanie danych: USB 2.0 dysk przenośny/sieciowo na komputerze
- Stolik na próbki: zmotoryzowany przesuw w osiach X i Y
EDS:
– Typ detektora: Silicon Drift Detector (SDD)
Chłodzony termoelektrycznie (LN₂ free)
– Aktywna powierzchnia detektora: 25 mm²
– Typ okienka: Ultracienki azotek krzemu (Si₃N₄) możliwiająca wykrywanie pierwiastków od B do Am
– Rozdzielczość: Mn Kα ≤132 eV
– Możliwości okienka: Wielokanałowy analizator z 2048 kanałami przy energii 10 eV na każdy kanał
– Maksymalna szybkość zliczania na wejściu: 300 000 zliczeń/s
– Integracja hardware: Pełna
Mapowanie pierwiastkowe:
– Selekcja: 10 ręcznie ustawionych map wraz z obrazem z BSE lub obrazem z miksu BSE+SE
Obraz z detektora BSE, obraz z miksu BSE+SE:
– Wybrany obszar: Prostokątna, dowolny rozmiar
– Rozdzielczość mapowania pierwiastkowego: 16 x 16 px – 1024 x 1024 px
– Czas ekspozycji pixela: 1 – 250 ms
Skan liniowy:
– Rozdzielczość skanu liniowego: 16 – 512 px
– Czas ekspozycji punktu: 50 – 250 ms
– Maksymalna liczba linii: 12
Oprogramowanie:
- Zintegrowane w interfejsie użytkownika Phenom
- Zintegrowane sterowanie kolumną i stołem
- Auto-detekcja pierwiastków po pierwszej sekundzie analizy
- Iteracyjne usuwanie nakładających się pików
- Parametr niepewności pomiarowej
- Funkcje raportu: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
Raport: .doc format
System:
– Dimensions & weight:
- Jednostka główna: 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg
- Pompa próżniowa: 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4,5 kg
- Zasilacz: 260(w) x 260(d) x 85(h) mm, 4,5kg
- Monitor (24”): 531(w) x 180(d) x 511(h) mm, 5,6kg
- Stacja robocza: Komputer z dyskiem SSD
93(w) x 293(d) x 290(h) mm, 5,6 kg - Rozmiar stolika: Max. 100 mm x 100 mm (do 36x stoliczków aluminiowych ⌀12 mm)
Max. 40 mm wysokości (opcjonalnie do 65 mm) - Obszar roboczy: 100 mm x 100 mm
- Czas obrazowania od włożenia stoliczka do komory:
Tryb kamery <5 s
Tryb SEM <60 s
Wymagania:
– Parametry środowiska/ stacja robocza
- Temperatura: 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)
- Wilgotność: 20% – 80%
- Zasilanie: Jedna faza, prąd zmienny 100–240 W, 50/60 Hz, 163 W średnia, 348 W max
- Rekomendowana wielkość stołu: 150 x 75 cm, nośność 150 kg
- Specyfikacja stacji roboczej:
HP-PC Tower PC
CPU Intel Xeon E5-1620
RAM 16 GB
SSD 2 x 1TB
Klawiatura i myszka USB
Microsoft Windows® 10 Enterprise Edition (64-bit)
Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.
