• Regulamin
  • Polityka prywatności
  • FAQ
Logo
×
  • Generuj
    ofertę
    Aby wygenerować ofertę, dodaj przynajmniej jeden produkt do koszyka.
  • Kopiuj
    koszyk
    Aby udostępnić koszyk, dodaj co najmniej jeden produkt do koszyka.
Koszyk:
0,00 zł
Kategorie
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Mikroskopy elektronowe SEMUrządzenia do metalografii » Mikroskopy elektronowe SEM » Mikroskop elektronowy Phenom Pharos G2 – ThermoFisher Scientific
Mikroskop elektronowy Phenom Pharos G2

Mikroskop elektronowy Phenom Pharos G2 – ThermoFisher Scientific

Phenom Pharos G2 FEG-SEM wprowadza zaawansowaną technologię emisji polowej (FEG) do kompaktowych, skaningowych mikroskopów elektronowych. Phenom Pharos G2 FEG-SEM wyróżnia się jakością uzyskiwanych obrazów elektronowych, przewyższając wiele tradycyjnych mikroskopów SEM typu podłogowego. Jest idealnym rozwiązaniem dla laboratoriów akademickich i przemysłowych, które dotychczas uważały wysokorozdzielczy SEM za nieosiągalną opcję. Phenom Pharos G2 FEG-SEM zapewnia dostęp do możliwości zarezerwowanych dla mikroskopii elektronowej z wysokiej jakości emisją polową elktronów (FEG), a jego wyjątkowo szybki proces odpompowania komory, umożliwia sprawną wymianę próbek – co znacząco zwiększa produktywność.

Phenom Pharos G2 FEG-SEM oferuje szeroki zakres napięć przyspieszających, od 1 kV – dla lepszego obrazowania próbek nieprzewodzących i wrażliwych na wiązkę, aż do 20 kV – co z kolei pozwala na obserwację najdrobniejszych szczegółów przy jednoczesnym zapewnieniu rozdzielczości poniżej 2,0 nm.

Nowy uchwyt próbki ze zintegrowanym detektorem STEM dla Phenom Pharos G2 wprowadza dodatkowy wymiar możliwości obrazowania, co zwiększa różnorodność zastosowań I zdecydowanie rozszerza zaawansowane możliwości tego mikroskopu FEG-SEM. Uchwyt STEM wykorzystuje wysoką jasność źródła FEG do obrazowania bardzo cienkich próbek w trybie prześwietleniowym  – transmisyjnym. Skupione do małej wielkości plamki elektrony, przenikają przez próbkę i są wykrywane przez wielosektorowy detektor umieszczony pod preparatem. Standardowy uchwyt STEM obsługuje obrazowanie w polu jasnym (BF), polu ciemnym (DF) oraz polu ciemnym szerokokątowym – pierścieniowym (HAADF), a także umożliwia dostosowanie konfiguracji.

Rozdzielczość:

  • <2,0 nm (SE), <3 nm (BSE) przy 20 kV
  • 10 nm (SE) przy 3 kV
  • <1 nm STEM

Zakres powiększenia elektronowego:

  • Do 2 000 000x

Powiększenie optyczne:

  • 27 – 160x

Napięcia przyspieszające: 

  • Domyślnie: 5 kV, 10 kV , 15 kV i 20 kV
  • Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 1 kV do 20 kV

Tryby próżniowe:

  • Tryb wysokiej próżni
  • Tryb średniej próżni
  • Zintegrowany tryb redukcji ładunku (tryb niskiej próżni)

Detektory:

  • Detektor elektronów wstecznie rozproszonych (standard)
  • Detektor EDS (opcjonalnie)
  • Detektor elektronów wtórnych (opcjonalnie)
  • Detektor STEM dla trybu transmisyjnego (opcjonalnie)

Wielkość próbki:

  • Średnica do 25 mm (opcjonalnie 32 mm)

Wysokość próbki:

  • Do 35 mm (opcjonalnie 100 mm)

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI

O LABORATORIUM

Laboratorium Materiałoznawcze PIK to miejsce, gdzie precyzja i innowacja spotykają się, aby dostarczać najwyższej jakości analizy i badania materiałów. Dzięki zaawansowanemu sprzętowi i doświadczonemu zespołowi specjalistów, oferujemy kompleksowe usługi badawcze, które pomagają w optymalizacji procesów produkcyjnych i podnoszeniu jakości wyrobów. Stawiamy na rzetelność, terminowość oraz indywidualne podejście do każdego zlecenia, zapewniając naszym klientom pełne wsparcie i profesjonalizm na każdym etapie współpracy.

Zapraszamy do współpracy i korzystania z naszych zaawansowanych badań materiałowych!

Dane kontaktowe

Laboratorium usługowe
ul. Lwowska 34
41-500 Chorzów
Tel: +48 504 791 595
laboratorium@pik-metrology.pl

PIK METROLOGY Sp. z o.o.
NIP: 123-143-66-20
ul. Źródlana 9
05-090 Laszczki
kontakt@pik-metrology.pl

PIK Metrology – Polityka prywatności

Certyfikacja

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001
(nr. 4804600) , potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością
z międzynarodowymi standardami ISO.
Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright 2026 by PIK Instruments. All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
×
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
    • Aparatura badawcza i przemysłowa
      • Mikroskopy elektronowe SEM
      • Metrologia (urządzenia pomiarowe)
      • Urządzenia do metalografii
      • Materiały zużywalne do metalografii
Kontakt
Zadzwoń +48 22 726 74 96 pon.-pt. 8:00-16:00
sob.-ndz. nieczynne
E-mail Napisz do nas FAQ FAQ

Podaj adres e-mail

Zarejestruj się w Micro-Shop, aby ułatwić generowanie ofert i uniknąć podawania adresu e-mail przy każdej wygenerowanej ofercie.

Obowiązkowe

Nieobowiązkowe

Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

Save Your Cart

Title is required

Share Your Cart

Cart has been replaced

Share Your Cart

Login first to save cart
Powrót
Zapaytaj o produkt

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem- wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Obowiązkowe

    Nieobowiązkowe

    Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

    Kliknij w przycisk, aby skopiować zawartość koszyka

    Skopiowano