Mikroskop Leica do badania czystości technicznej

Mikroskopy do analizy czystości technicznej oparte są na mikroskopach Leica Emspira 3 oraz DM6 M. Wybrane systemy różnią się zakresem powiększeń oraz minimalną wielkością analizowanych cząstek.

Oprogramowanie analityczne LAS X Cleanliness Expert zapewnia wiele korzyści przyspieszających i ułatwiających proces kontroli w zakresie czystości technicznej. Oprogramowanie Cleanliness Expert to łatwe w użyciu, optymalne rozwiązanie zapewniające wiarygodne, powtarzalne wyniki analizy, dostosowane do Twoich potrzeb.

Analizuj więcej niż jedną próbkę jednocześnie, zwiększ wydajność pracy i uprość proces dzięki zautomatyzowanej analizie cząstek. Połącz na przykład wiele próbek z jednego procesu filtracji w jedną partię do analizy i przypisz różne ustawienia klasyfikacji cząstek dla każdego filtra. Łatwo generuj raporty, aby udostępnić swoje wyniki.

Skorzystaj z wyjątkowych cech oprogramowania Cleanliness Expert takich jak:

• Automatyczne rozróżnianie cząstek odbijających światło i nieodbijających światła
• Uwzględnienie indywidualnych wymagań
• Algorytmy autofokusa i detekcji dla analizy niezależnej od użytkownika dla uniknięcia błędów i zachowania powtarzalności
• Interfejs użytkownika jest konfigurowalny do specyficznych potrzeb

Normy:

VDA 19, ISO 16232, ISO 4406, NAS 1638, SAE AS4059, DIN 51455

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.