• Regulamin
  • Polityka prywatności
  • FAQ
Logo
×
  • Generuj
    ofertę
    Aby wygenerować ofertę, dodaj przynajmniej jeden produkt do koszyka.
  • Kopiuj
    koszyk
    Aby udostępnić koszyk, dodaj co najmniej jeden produkt do koszyka.
Koszyk:
0,00 zł
Kategorie
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Urządzenia do metalografii » Metrologia (urządzenia pomiarowe) Pomiary 2DPomiary wałówWspółrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) » Pomiary 2D » Seria V-CAD – Szybkość pomiaru w najwyższej rozdzielczości – Dr. Schneider
Seria V-CAD

Seria V-CAD – Szybkość pomiaru w najwyższej rozdzielczości – Dr. Schneider

Ultraprecyzyjne i błyskawiczne pomiary optyczne 2D

Mierzenie detali płaskich jeszcze nigdy nie było tak szybkie i intuicyjne. Seria V-CAD firmy Dr. Heinrich Schneider Messtechnik to kompaktowe urządzenia do błyskawicznego pomiaru 2D, które dzięki technologii „jednego ujęcia” (one-shot) wykonują pełny pomiar w ułamku sekundy – niezależnie od liczby detali w polu widzenia.

Idealne rozwiązanie dla produkcji seryjnej i kontroli jakości płaskich elementów – zarówno pojedynczych, jak i ułożonych seryjnie:

  • Profile z tworzyw sztucznych, aluminium, gumy, metalu i kompozytów
  • Detale tłoczone, uszczelki, szablony, layouty PCB
  • Pomiary wielu różnych komponentów jednocześnie – bez potrzeby ich ustawiania

Pomiar bez ręcznego pozycjonowania

Dzięki wysokorozdzielczej kamerze i oprogramowaniu SAPHIR, seria V-CAD automatycznie rozpoznaje elementy w polu widzenia, eliminując konieczność ich ustawiania. Pomiar uruchamia się natychmiast po odsunięciu dłoni operatora – szybko, bezbłędnie i niezależnie od doświadczenia użytkownika.

Zoptymalizowane oświetlenie i optyka telecentryczna

  • Obiektyw telecentryczny – brak zniekształceń perspektywicznych i wierna skala obrazu
  • Wysokiej klasy kamera 5 MP – detekcja krawędzi oparta na jasności pikseli (czarno-biały obraz)
  • Oświetlenie LED – przechodzące, pierścieniowe i współosiowe (opcja), zapewniające idealne warunki pomiaru niezależnie od powierzchni i materiału

Dzięki tym rozwiązaniom, detale o wysokości nawet do 60 mm można mierzyć bez dodatkowej regulacji ostrości.

Powiększenie zawsze dopasowane

Zmotoryzowany 4-stopniowy obiektyw zoom umożliwia dobór powiększenia do konkretnego pomiaru – od całych komponentów po najmniejsze szczegóły.

  • Pole widzenia:

    • Zoom 1: 65,5 × 55 mm
    • Zoom 2: 32,5 × 27,5 mm
    • Zoom 3: 16 × 13,5 mm
    • Zoom 4: 8 × 6,5 mm

Większe powiększenie = wyższa rozdzielczość pomiarowa.

Wersje z ruchomym stołem pomiarowym – V-CAD 300 / 400 / 500

Modele V-CAD 300, 400 i 500 zostały stworzone do obsługi większych detali. Dzięki ruchomemu stołowi i funkcji „stitchingu”, możliwe jest automatyczne składanie obrazu z wielu ujęć i błyskawiczne jego przetwarzanie. Oświetlenie wspierane błyskami gwarantuje idealną ostrość nawet w ruchu.

  • Zakres pomiarowy do 500 × 200 mm
  • Stabilna granitowa baza
  • Pomiar i analiza w kilka sekund
  • Ręczna lub 3-osiowa obsługa CNC

Moduły i opcje rozszerzające funkcjonalność

  • Laser triangulacyjny – bezdotykowy pomiar wysokości i konturów, także przy luźno ułożonych detalach
  • Współosiowe światło powierzchniowe (coaxial LED) – do pomiarów w świetle obitym lub głęboko osadzonych elementów
  • Kątowniki, systemy mocujące i uchwyty do detali cylindrycznych
  • Rozbudowa do w pełni automatycznej jednostki pomiarowej – integracja z systemem podawania, sortowania i pakowania

Oprogramowanie SAPHIR – inteligentna analiza 2D

Wszystkie modele V-CAD są standardowo wyposażone w SAPHIR smart – intuicyjne oprogramowanie do szybkiego pomiaru. Dla bardziej wymagających użytkowników dostępne są również wersje SAPHIR Full oraz interfejs M3 (multi-touch). Użytkownik wybiera system najlepiej pasujący do jego stylu pracy i potrzeb produkcyjnych.

Dane techniczne – przykładowe modele

Model

Zakres pomiarowy (X × Y) Wysokość detalu (Z) Zoom Waga detalu

Powtarzalność

V-CAD 60

65,5 × 55 mm do 50 mm 4-stopniowy 15 kg 0,001 mm

V-CAD 300

300 × 200 mm

do 200 mm 4-stopniowy 15 kg

0,001 mm

V-CAD 500

500 × 200 mm

do 200 mm

4-stopniowy

15 kg

0,001 mm

 

Gotowość do automatyzacji i integracji

  • Kontrola wejściowa i wyjściowa
  • Kontrola 100% jakości w czasie rzeczywistym
  • Szybkie testy „OK/NOK”
  • Automatyczne linie sortujące

Dlaczego warto wybrać V-CAD?

  • Ekstremalna szybkość pomiaru – w mniej niż sekundę
  • Pomiar wielu elementów jednocześnie – bez ich pozycjonowania
  • Telecentryczna optyka i wysoka rozdzielczość
  • Gotowość do integracji z systemami produkcyjnymi

Intuicyjna obsługa i szybkie wdrożenie.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI

O LABORATORIUM

Laboratorium Materiałoznawcze PIK to miejsce, gdzie precyzja i innowacja spotykają się, aby dostarczać najwyższej jakości analizy i badania materiałów. Dzięki zaawansowanemu sprzętowi i doświadczonemu zespołowi specjalistów, oferujemy kompleksowe usługi badawcze, które pomagają w optymalizacji procesów produkcyjnych i podnoszeniu jakości wyrobów. Stawiamy na rzetelność, terminowość oraz indywidualne podejście do każdego zlecenia, zapewniając naszym klientom pełne wsparcie i profesjonalizm na każdym etapie współpracy.

Zapraszamy do współpracy i korzystania z naszych zaawansowanych badań materiałowych!

Dane kontaktowe

Laboratorium usługowe
ul. Lwowska 34
41-500 Chorzów
Tel: +48 504 791 595
laboratorium@pik-metrology.pl

PIK METROLOGY Sp. z o.o.
NIP: 123-143-66-20
ul. Źródlana 9
05-090 Laszczki
kontakt@pik-metrology.pl

PIK Metrology – Polityka prywatności

Certyfikacja

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001
(nr. 4804600) , potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością
z międzynarodowymi standardami ISO.
Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright 2026 by PIK Instruments. All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
×
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
Kontakt
Zadzwoń +48 22 726 74 96 pon.-pt. 8:00-16:00
sob.-ndz. nieczynne
E-mail Napisz do nas FAQ FAQ

Podaj adres e-mail

Zarejestruj się w Micro-Shop, aby ułatwić generowanie ofert i uniknąć podawania adresu e-mail przy każdej wygenerowanej ofercie.

Obowiązkowe

Nieobowiązkowe

Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

Save Your Cart

Title is required

Share Your Cart

Cart has been replaced

Share Your Cart

Login first to save cart
Powrót
Zapaytaj o produkt

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem- wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Obowiązkowe

    Nieobowiązkowe

    Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

    Kliknij w przycisk, aby skopiować zawartość koszyka

    Skopiowano