• Regulamin
  • Polityka prywatności
  • FAQ
Logo
×
  • Generuj
    ofertę
    Aby wygenerować ofertę, dodaj przynajmniej jeden produkt do koszyka.
  • Kopiuj
    koszyk
    Aby udostępnić koszyk, dodaj co najmniej jeden produkt do koszyka.
Koszyk:
0,00 zł
Kategorie
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
Strona główna » Sklep » Aparatura badawcza i przemysłowa Metrologia (urządzenia pomiarowe)Urządzenia do metalografii » Metrologia (urządzenia pomiarowe) Pomiary 2DPomiary wałówWspółrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) » Pomiary wałów » Seria WMX – Szybki, optyczny pomiar wałków 3D – Dr. Schneider
Seria WMX

Seria WMX – Szybki, optyczny pomiar wałków 3D – Dr. Schneider

Seria WMX – Maszyny pomiarowe 3D do wałków i komponentów obrotowo-symetrycznych

Niezawodność, precyzja i błyskawiczne wyniki

Seria WMX firmy Dr. Heinrich Schneider Messtechnik to innowacyjne maszyny pomiarowe dedykowane do szybkiej i precyzyjnej analizy wałków oraz komponentów obrotowo-symetrycznych. Dzięki zastosowaniu kamery matrycowej, w pełni zintegrowanej osi obrotowej oraz oprogramowania SAPHIR, seria WMX łączy zalety wysokiej gęstości danych pomiarowych z krótkim czasem cyklu.

Idealna do produkcji seryjnej, kontroli jakości końcowej oraz laboratoriów metrologicznych.

Szybkość i powtarzalność pomiarów 3D

  • Pomiar w kilka sekund – jedna rotacja wałka wystarcza do zebrania tysięcy punktów pomiarowych
  • Kamery matrycowe – umożliwiają skanowanie całych powierzchni wałka bez interpolacji
  • Oś obrotowa zintegrowana z systemem pomiarowym – zapewnia wysoką stabilność i dokładność przy pomiarach obwodowych

Oprogramowanie SAPHIR – inteligentne i certyfikowane

System SAPHIR oferuje:

  • Pomiar i analiza cech 2D oraz 3D z jednego programu
  • Łatwe programowanie krok po kroku – bez potrzeby kodowania
  • Możliwość importu modeli 3D i programowania offline
  • Wbudowane raportowanie – log pomiarowy lub wizualizacja bezpośrednio na obrazie detalu

Dzięki SAPHIR możliwa jest szybka, dokładna i kompleksowa dokumentacja pomiarów.

Bezkonkurencyjna optyka i niezawodna konstrukcja

  • Podstawa z granitu – gwarantuje stabilność termiczną i mechaniczną
  • Oświetlenie telecentryczne LED z podwójnym źródłem światła – zapewnia wysokokontrastowy obraz przy każdym kącie
  • Pole widzenia 37 × 45 mm – doskonała równowaga między rozdzielczością a obszarem roboczym
  • Rozdzielczość pomiarowa 0,0001 mm – idealna do detali o wysokich wymaganiach tolerancyjnych

Konstrukcja WMX zapewnia najwyższą precyzję i stabilność pomiarową nawet w wymagających warunkach produkcyjnych.

Obsługa jednym przyciskiem

  1. Zamocuj wałek przy pomocy innowacyjnego ramienia i narzędzi mocujących
  2. Naciśnij START – pomiar rozpoczyna się natychmiast
  3. System skanuje całą geometrię wałka
  4. Automatyczna analiza i dokumentacja wyników

Proces pomiarowy został uproszczony do minimum, co skraca czas cyklu i ułatwia pracę operatora.

Analiza 3D – dokładność i szybkość

  • Kamera matrycowa WMX skanuje cały obiekt w czasie jednej rotacji
  • Brak interpolacji – dane rzeczywiste z każdego punktu powierzchni
  • Natychmiastowa detekcja odchyleń kształtu – eliminacja błędów i reklamacji

Analiza 3D zapewnia pełną kontrolę nad kształtem detali i zwiększa niezawodność produkcji.

Dane techniczne – modele dostępne

Model

Długość detalu Średnica max. Waga detalu (z uchwytem) Błąd długości (EUX)

Błąd średnicy (EUY)

WMX 300 / 40

do 300 mm do 40 mm do 10 kg 3,0 + L/200 µm

1,4 + L/200 µm

WMX 600 / 40 do 600 mm do 40 mm do 10 kg 3,0 + L/200 µm

1,4 + L/200 µm

 

Rozszerzenia i konfiguracja pod zadanie

  • Zintegrowana oś obrotowa z uchwytem MK2 i opcjonalnymi narzędziami mocującymi
  • Możliwość montażu na stanowiskach automatycznych
  • Gotowość do integracji z robotami i systemami automatyki
  • Opcja programowania zmiennych geometrii detali (np. różne długości, średnice, wersje wykonania)

Konfiguracja WMX jest elastyczna i dostosowana do różnych typów produkcji seryjnej.

Dlaczego warto wybrać serię WMX?

  • Najszybszy optyczny system pomiaru wałków na rynku
  • Precyzyjna analiza kształtu 3D bez potrzeby wielokrotnych skanów
  • Pełna dokumentacja gotowa od razu po pomiarze
  • Minimalny czas cyklu – idealny do kontroli w toku produkcji
  • Prosta obsługa i minimalne wymagania szkoleniowe

Seria WMX łączy szybkość, precyzję i łatwość obsługi, zapewniając niezawodną kontrolę jakości w produkcji.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI

O LABORATORIUM

Laboratorium Materiałoznawcze PIK to miejsce, gdzie precyzja i innowacja spotykają się, aby dostarczać najwyższej jakości analizy i badania materiałów. Dzięki zaawansowanemu sprzętowi i doświadczonemu zespołowi specjalistów, oferujemy kompleksowe usługi badawcze, które pomagają w optymalizacji procesów produkcyjnych i podnoszeniu jakości wyrobów. Stawiamy na rzetelność, terminowość oraz indywidualne podejście do każdego zlecenia, zapewniając naszym klientom pełne wsparcie i profesjonalizm na każdym etapie współpracy.

Zapraszamy do współpracy i korzystania z naszych zaawansowanych badań materiałowych!

Dane kontaktowe

Laboratorium usługowe
ul. Lwowska 34
41-500 Chorzów
Tel: +48 504 791 595
laboratorium@pik-metrology.pl

PIK METROLOGY Sp. z o.o.
NIP: 123-143-66-20
ul. Źródlana 9
05-090 Laszczki
kontakt@pik-metrology.pl

PIK Metrology – Polityka prywatności

Certyfikacja

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001
(nr. 4804600) , potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością
z międzynarodowymi standardami ISO.
Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright 2026 by PIK Instruments. All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
×
  • Mikroskopia elektronowa
  • Mikroskopia i makroskopia świetlna
  • Metalografia
  • Czystość techniczna
  • Wyposażenie laboratorium
    • Urządzenia pomiarowe
      • Preparatyka próbek
      • Makro- i mikroskopia świetlna
      • Mikroskopia SEM
      • Czystość techniczna
      • Spektrometria
  • Aparatura badawcza i przemysłowa
Kontakt
Zadzwoń +48 22 726 74 96 pon.-pt. 8:00-16:00
sob.-ndz. nieczynne
E-mail Napisz do nas FAQ FAQ

Podaj adres e-mail

Zarejestruj się w Micro-Shop, aby ułatwić generowanie ofert i uniknąć podawania adresu e-mail przy każdej wygenerowanej ofercie.

Obowiązkowe

Nieobowiązkowe

Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

Save Your Cart

Title is required

Share Your Cart

Cart has been replaced

Share Your Cart

Login first to save cart
Powrót
Zapaytaj o produkt

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem- wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Obowiązkowe

    Nieobowiązkowe

    Ta witryna jest chroniona przez reCAPTCHA i obowiązuje Polityka prywatności i Warunki korzystania z usługi Google.

    Kliknij w przycisk, aby skopiować zawartość koszyka

    Skopiowano